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XOI复合衬底键合设备
WBX-S系列是面向SOI、POI、SiCOI等先进复合衬底工艺打造的全自动晶圆键合设备,支持4-12英寸晶圆的大气及低真空直接键合。设备采用高稳定性平台架构与模块化设计,可实现高效率、高一致性的晶圆贴合工艺,适用于高端CPU/GPU、MEMS传感器、5G射频、光电子及功率器件等领域。
设备具备稳定的对准控制能力与良好的工艺兼容性,可满足先进复合衬底在键合精度、颗粒控制与产能方面的需求,为新一代高性能半导体器件提供核心工艺支撑。¥ 0.00立即购买
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BSPDN对准增强型键合设备
WBX-B300是针对Backside PDN(背部供电网络)工艺开发的新一代超低畸变键合设备,面向先进逻辑芯片、高性能AI处理器及高端移动芯片应用。设备支持高精度图形转移与低应力键合,可有效降低键合畸变残差,提高后续工艺良率。
设备结合增强型边缘对准技术与先进运动控制系统,可实现超低变形控制与稳定的键合一致性,适用于未来先进逻辑工艺中对供电效率与性能密度要求极高的关键场景。¥ 0.00立即购买
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D2W混合键合晶圆表面处理设备
DBX-A300是一款面向D2W混合键合工艺的高端晶圆表面处理系统,集成等离子体活化、晶圆清洗、UV解粘及键合精度测量等多项功能,可适配带框架晶圆及多种先进封装工艺需求。
设备采用模块化架构设计,支持双频等离子活化、超低金属离子污染控制及多种清洗干燥工艺,可显著提升晶圆表面洁净度与活化一致性,为混合键合工艺提供稳定可靠的前处理能力,广泛应用于HBM、Logic、CPO、Micro Display及晶圆重构等领域。¥ 0.00立即购买
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键合空洞及键合能检测设备
MTX-V300是一款面向先进晶圆键合工艺开发的高精度检测设备,主要用于键合界面空洞(Void)检测及键合能分析,可实现对键合质量的快速、无损检测与量化评估。
设备采用高灵敏度红外检测技术与先进图像分析算法,可精准识别键合界面的微小空洞、颗粒缺陷及界面异常,帮助客户提升键合良率与工艺稳定性。系统支持多种材料与工艺场景,适用于先进复合衬底、混合键合、异质键合及3D集成等高端半导体制造领域。¥ 0.00立即购买
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键合套刻测量设备
MTX-O300是一款用于先进晶圆键合工艺套刻精度测量的高端量检测设备,主要应用于晶圆键合后的Overlay测量与对准误差分析,可实现纳米级高精度套刻检测。
设备结合高精度光学成像系统与先进运动控制平台,可对键合后晶圆的整体套刻偏差、局部畸变及对准一致性进行精准测量,为先进封装与混合键合工艺提供关键工艺反馈。¥ 0.00立即购买
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晶圆表面活化设备
PLS-I300是一款面向先进键合工艺开发的晶圆等离子体活化设备,可实现晶圆表面的高效活化处理,提高键合界面结合强度与工艺稳定性。
设备采用低污染腔体设计与稳定射频控制技术,可有效降低颗粒与金属离子污染,适用于混合键合、异质键合及先进复合衬底等多种高端工艺场景。¥ 0.00立即购买
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晶圆表面清洗设备
CLS-S300是一款用于先进晶圆表面清洗的半自动工艺设备,支持DIW、兆声、二流体、IPA及氮气干燥等多种清洗方式,可有效去除颗粒、有机残留与金属污染。
设备适用于先进封装、混合键合及第三代半导体工艺中的高洁净度场景,为后续键合工艺提供稳定可靠的表面状态保障。¥ 0.00立即购买
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半自动晶圆键合设备
WBS-V300是一款适用于科研验证及工艺开发的半自动键合设备,支持有机胶键合、共晶键合、熔融键合等多种工艺方式。设备兼顾灵活性与工艺兼容性,可满足实验室、小批量验证及新工艺开发需求。
产品适用于高校、科研院所及先进工艺研发平台,为客户提供高自由度、高稳定性的键合工艺验证环境。¥ 0.00立即购买
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